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書籍情報
電子，X線，イオン，探針と固体表面との相互作用を基礎から説明し，それらがそれぞれどのように表面分析法に応用されているのかを平易に解説している．これから表面分析に取り組もうとする人，すでに使いこなしている人，いずれの人にとっても有用な一冊である． |
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| 材料学シリーズ：堂山昌男・小川恵一・北田正弘 監修 |
入門表面分析
固体表面を理解するための
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| A5／224頁 定価（本体3600円＋税） 978-4-7536-5618-9
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| 吉原一紘（工学博士） 著 |
 目 次 |
1. はじめに
2. 電子と固体の相互作用を利用した表面分析法
電子線の発生方法／低速電子線回折法／反射高速電子線回折法／走査電子顕微鏡／透過電子顕微鏡／電子線プローブマイクロアナリシス／オージェ電子分光法
3. X線と固体の相互作用を利用した表面分析法
X線の発生方法／X線光電子分光法／全反射蛍光X線分析法／X線回折法
4. イオンと固体の相互作用を利用した表面分析法
イオンビームの発生方法／イオン散乱分光法／二次イオン質量分析法
5. 探針の変位を利用した表面分析法
走査トンネル顕微鏡／原子間力顕微鏡
付 録
原子の構造／データ処理／構造因子とフーリエ変換／演習問題／演習問題解答
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書籍サポート情報 
